| 비파괴분석법에 의한 은제금도금유물의 판단을 위한 비교실험 연구 |
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심명보, 유혜선, 김수기 |
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| A Study on Comparison Experiments for Judgement to the Nondestructive Analysis of Gold Plated Silverware Remains |
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Myung-Bo Sim, Hei-Sun Yu, Soo-ki Kim |
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| 초 록 |
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은 소지 위에 금을 도금한 은제금도금유물을 대상으로 성분분석을 위해 X선 형광 분석기를 이용하여 비파괴분석을 실시하면 소지금속인 Ag에서 전자궤도에 따라 무게백분율(wt.%)의 값이 큰 차이가 나타나는 특이점을 확인할 수 있다. 이러한 특이점을 이용하여 육안으로는 파악하기 쉽지 않은 유물에서도 은제금도금기법이 사용되었는지를 판단할 수 있는 근거를 제시하고자 재현시료를 제작하여 비교분석을 실시하였다. 그 결과 수은아말감도금법과 전기도금법으로 제작된 시료에서는 실제 유물들의 분석결과와 같은 결과를 볼 수 있었다. 하지만 금은합금시료의 경우 도금시료와는 달리 주성분들의 전자궤도에 따른 차이가 미미한 것을 확인할 수 있었다. 도금시료에서 나타나는 이러한 원인으로는 단일재료가 아닌 도금으로 인한 이중구조에 의해 도금층에서 XRF 빔을 흡수하면서 발생하는 것으로 보인다. 따라서 비파괴분석에서 나타나는 이러한 결과를 이용한다면 단면을 관찰하지 않아도 은제금도금 기법의 사용 여부를 판단할 수 있을 것으로 확인하였다. |
| 중심어:
은제금도금, X-선 형광분석, 전자궤도 |
| ABSTRACT |
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If the nondestructive analysis is carried out by using an X-ray Fluorescence Analyzer(XRF) for ingredient analysis with the target of gold plated silverware that plates gold on a silver basis, a singular point showing big difference at the value of weight percent(wt.%) according to the electron orbit of the principal ingredient can be confirmed. The present research made reproduced samples and carried out comparative analysis in order to suggest a basis that can judge whether the technique of gold plated silverware was used in case of remains uneasy to understand with eyes by using this singular point. As a result, the same result as analysis results of actual remains could be seen in specimens manufactured by a mercury amalgam plating method. However, in case of gold and silver alloy specimens, it could be confirmed that the difference according to the electron orbit of the principal ingredients is slight unlike plated specimens. The reason appearing at plated specimens seems to be generated while absorbing XRF beam at plated layers by double structure due to plating instead of single material. Accordingly, if this result appearing at nondestructive analysis is used, it was confirmed that the application of the technique of gold plated silverware can be judged without observing its section. |
| Key Words:
Silverware remains, X-ray fluorescence analyzer, Electron orbit |
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